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SX-1934数字式四探针测试仪SX1934
SX-1934数字式四探针测试仪SX1934
产品名称： SX-1934数字式四探针测试仪SX1934
产品型号： SX1934数字式四探针测试仪(原SZ82)
产品产地：
产品特点： 上海华岩仪器设备有限公司供应SX1934四探针测试仪测量片状、块状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻
推荐
订购指南 (点击下面具体的产品名称来查看详细介绍)
编号 产品名称 规格 备注 含税价(元) 订购
7005 SX-1934B型数字式四探针测试计SX1934B 普通型，不能进行高精度测量 3900
7004 SX-1903型PN类别鉴定仪SX1903 3900
2284 SX-1934数字式四探针测试仪SX1934 电阻率：10-4～103Ω-cm 19900
SX-1934数字式四探针测试仪SX1934 详细信息
SX1934型(原SZ-82)数字式四探针测试仪(国家标准制定单位)      点击探头和测试架图片
SX－1934四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。上海华岩仪器设备有限公司供应SX1934四探针测试仪。 
      产品特点 
四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试专用仪器。 
仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。上海华岩仪器设备有限公司供应SX1934四探针测试仪。
  技术指标
型号
SX1934(SZ82)
测量范围
电阻率/Range：10-4—105Ω/□(可扩展/extended range) 方块电阻(薄层电阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 电阻/resistance：10-6—105Ω
可测晶片直径（最大）
φ100mm，方形230×220mm
最大电阻测量误差(按JJG508-87)
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%读数±2个字
外形尺寸
400mm×440mm×120mm
仪器重量
电气主机：约4kg 　　测试台：约5kg
测试环境
温度：23±2℃ 相对湿度：≤65％； 无高频干扰 无强光照射
电源
220V±10%(50Hz) 功耗≤35W
备注
可以选配电脑接口
探头
 
Sx系列四探针探头是采用综合性能优异的高分子材料、耐磨和硬度高的探针研制的测量数据稳定、可靠、准确度高、耐用性能好四探针探头。所有技术指标符合国家标准，同时符合ASTM标准有关规定。
间距：1±0.01mm； 针间绝缘电阻≥1000MΩ； 机械游移率:≤1.0%；
探针压力：TZT-9A/9B: 12-16牛顿（总力） TZT-9C/9D 5-8 牛顿（总力）
上海华岩仪器设备有限公司供应SX1934四探针测试仪。
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