CHY－C2测厚仪
    CHY－C2测厚仪、材料厚度测试仪适用于量程范围内各种材料的精确厚度测量。
CHY-C2测厚仪  特征 
·机械式测量方法，不受测量材料的限制 
·进口优质传感器，测量分辨率高达0.1微米 
·进口优质传动元件，保证了试验结果的稳定性、准确性 
·测量头对薄膜（纸张）的接触面积、接触压力严格遵循相关标准 
·特殊结构设计，保证上下测量平面的平行 
·灵活、方便的配重方式更能满足范围更宽的测量，非标试验易于实现 
·试验数据大屏幕液晶显示，操作按键人性化设计 
·可设置手动、自动两种试验模式，测量结果自动统计、打印 
·具有电脑通信接口 
·兼容ISO、ASTM等多种测量标准
结构组成
    本试验仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量，并输出相应电信号；控制系统用 以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等；打印输出系统的功能是统计结果的输出，打印试验结果。
功能原理简述
    本试验仪采用目前世界测量领域最先进的技术成果，确保测量结果的高精确性，多次测量结果的高度一致性；且操作调试极其方便， 几近于自动化操作，最大限度地减少了人为因素对测量结果带来的影响；对于单次测量，仅打印输出测量结果，对于多次测量，可对测 量结果进行统计、分析、打印输出；接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。
CHY-C2测厚仪   主要技术指标
测量范围：0～2mm(常规)(0～6mm可选) 
分 辨 率: 0.1μm
测量速度：10次/min(可调) 
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；〔50±1kPa(纸张)〕 
接触面积：50mm2(薄膜）；〔200mm2(纸张)〕 
电    源：AC 220V，50Hz 
外形尺寸：300(L)mm×275(B)mm×300(H)mm 
净    重：33kg
标准 
    GB 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
操作步骤 
    上电→设置测量参数→进入测试界面→放置待测薄膜→启动测量→测量结束→打印输出测量结果→试验结束 
注：本测量仪有记忆功能，若下次测量参数与上次相同，可直接进入测量，无须再进行参数设置。
仪器配置 
    标准配置：主机、标准量块一件
    选购件：通信软件、配重砝码盘、配重砝码（用户要求）